品牌 | 正臺(tái)ZTCK | 適用領(lǐng)域 | 科研 |
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產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
液槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱-詳細(xì)資料歡迎垂詢: 一、液槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱用途: 適用于國(guó)防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)(沖擊),適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無一不需要它的理想測(cè)試工具. 二、液槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
1. GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 2. GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 3. GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 4. GB2423.1 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A 5. GB2423.2 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B 6. GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N 7. IEC68-2-14 試驗(yàn)N 8. MIL-STD-88E美軍試樣試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 9. 國(guó)GJB150.3-86 10. 國(guó)GJB150.4-86 11. GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 12.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法 三、技術(shù)參數(shù): 1、 溫度范圍:-20℃/-40℃/-55℃/-65℃~+150℃ 2、 溫度上限:+200℃ 3、 溫度下限:-80℃ 4、 溫度偏差:±2℃ 5、 溫度波動(dòng)度:±0.5℃ 6、 溫度恢復(fù)時(shí)間:5min 7、 溫度恢復(fù)條件:高溫+150℃保溫≥35min低溫-40℃保溫≥30min. 8、 試品轉(zhuǎn)移方式:采用氣動(dòng) 9、試品重量:≤3kg 10、高溫室升溫時(shí)間:35min (+20℃~+170℃) 11、低溫室降溫時(shí)間:70min (+20℃~-55℃) 12、噪音:(dB)≤65 13、電源:AC380V±10%/50/60Hz+保護(hù)接地 14、總功率:15KW 六、液槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱型號(hào)及內(nèi)箱尺寸(W寬XH高X深D) ZT-80A-S W寬400XH高500XD深400mm ZT-150A-S W寬500XH高600XD深500mm ZT-252A-S W寬600XH高700XD深600mm ZT-408A-S W寬600XH高850XD深800mm |