存儲(chǔ)測(cè)試箱，高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱-詳細(xì)資料歡迎垂詢:

一、存儲(chǔ)測(cè)試箱，高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱適用范圍：

    適用于國(guó)防工業(yè)，航天工業(yè)自動(dòng)化零組件，汽車部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐寒、耐干性能及研發(fā)，質(zhì)量管理工程之試驗(yàn)規(guī)范。

二、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

    GB/T2423.1～2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)。A：低溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》.

三、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
3.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
4.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A

5.GB2423.2高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B. GB/T2423.34-2005高、低、溫度組合循環(huán)試驗(yàn)。

四、存儲(chǔ)測(cè)試箱，高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱規(guī)格型號(hào)及技術(shù)參數(shù)：

ZT-CTH-80L-G

ZT-CTH-120L-G

ZT-CTH-150L-G

ZT-CTH-225L-G

ZT-CTH-306L-G

ZT-CTH-408L-G

ZT-CTH-800L-G

ZT-CTH-1000L-G

1.溫度范圍 ：0℃/-20~℃/-40℃/-50℃/-60℃/-70℃/-85℃~+150℃(選用)

2.控制穩(wěn)定度 ：±0.5℃
3.分布均勻度 ：±1.5℃
4.溫度偏差： ≤±2℃
5.正常升溫時(shí)間 ：+20℃~+150℃小于45分鐘。
6.正常降溫時(shí)間 ：+20~-20℃小于45分鐘

                 +20~-40℃小于60分鐘

                 +20~-50℃小于65分鐘

                 +20~-60℃小于70分鐘

                 +20~-70℃小于75分鐘

                 +20~-85℃小于100分鐘.

五、存儲(chǔ)測(cè)試箱，高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)：整體結(jié)構(gòu)為體式開

1.內(nèi)箱材質(zhì)：SUS 304# 不銹鋼板

2.外箱材質(zhì)：SUS 304#不銹鋼板/特殊防銹處理冷軋板噴塑烤漆（電腦白色）

六、工作內(nèi)尺寸： 　
ZT-CTH-80L-G　   W寬40XH高50XD深40cm

ZT-CTH-120L-G　  W寬50XH高60XD深40cm
ZT-CTH-150L-G　  W寬50XH高60XD深50cm
ZT-CTH-225L-G　  W寬60XH高75XD深50cm
ZT-CTH-306L-G　  W寬60XH高85XD深60cm

ZT-CTH-408L-G　  W寬60XH高85XD深80cm

ZT-CTH-800L-G　  W寬100XH高100XD深80cm

ZT-CTH-1000L-G　 W寬100XH高100XD深100cm